GBT 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
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2021-10-30 20:16:36
文档简介:
ICS29.045H80中华人民共和国国家标准GB/T1553—2009代替GB/T1553—1997硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法Testmethodsforminoritycarrierlifetimeinbulkgermaniumandsiliconbymeasurementofphotoconductivitydecay2009-10-30发布2010-06-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布
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