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书犐犆犛３１．２００犔５５中华人民共和国国家标准犌犅／犜３６４７９—２０１８集成电路焊柱阵列试验方法犐狀狋犲犵狉犪狋犲犱犮犻狉犮狌犻狋狊—犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犮狅犾狌犿狀犵狉犻犱犪狉狉犪狔２０１８０６０７发布２０１９０１...

书犐犆犛３１．２００犔５６中华人民共和国国家标准犌犅／犜３６４７７—２０１８半导体集成电路快闪存储器测试方法犛犲犿犻犮狅狀犱狌犮狋狅狉犻狀狋犲犵狉犪狋犲犱犮犻狉犮狌犻狋—犕犲犪狊狌狉犻狀犵犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犳犾犪狊犺犿犲犿狅狉狔２０...

书犐犆犛３１．２００犔５６中华人民共和国国家标准犌犅／犜３６４７４—２０１８半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（犇犇犚３犛犇犚犃犕）测试方法犛犲犿犻犮狅狀犱狌犮狋狅狉犻狀狋犲犵狉犪狋犲犱犮犻狉犮狌犻狋—犕犲犪狊狌狉犻狀...

ICS31.030L90中华人民共和国国家标准GB/T29844—2013用于先进集成电路光刻工艺综合评估的图形规范Specificationsformetrologypatternsfortheevaluationofadvancedphotolithgraphy2013-11-12发布2014-04-15实施中华人民共和国国家质量监督检验检...

ICS31.200L56中华人民共和国国家标准GB/T16525—2015代替GB/T16525—1996半导体集成电路塑料有引线片式载体封装引线框架规范Semiconductorintegratedcircuits—Specificationofleadframesforplasticleadedchipcarrierpackage2015-05-15发布2016...

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ICS31.200L56中华人民共和国国家标准GB/T15876—2015代替GB/T15876—1995半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架规范Semiconductorintegratedcircuits—Specificationofleadframesforplasticquadflatpackage2015-05-15发布2016-01-01实施中...

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